S&I三级拉曼光谱显微系统

高性能模塊化設計，根據用戶的應用，配置不同的系統，適合各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）

TriVista CRS+ 系統概述

高性能模塊化設計，根據用戶的應用，配置不同的系統，各種光學測試（拉曼、熒光、PL、時間分辨光譜和熒光壽命）超高分辨率(0.14cm-1)，超低波數(<5cm-1)，超強的雜散光抑制、高靈敏度加模式，減模式同一光路，軟件轉換模式後，不需要校正光路***內置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉換光柵後，不需要校正光路同時觀察斯托克斯-反斯托克斯高通光率光譜儀，焦長可選：500/500/500mm, 500/500/750mm, 750/750/750mm光譜檢測器可配置高量子效率（QE>95%）的CCD、EMCCD、 ICCD、InGaAs陣列，也可配置各種單點探測器顯微鏡可配置OLYMPUS BX51正置或IX71倒置研究級顯微鏡，XYZ自動平台可配置大樣品箱，用戶自有樣品箱、真空樣品箱、高低溫樣品台、磁場多個狹縫入口，多個CCD和狹縫出口，可擴展性極強，可耦合拉曼光纖探頭，掃描顯微鏡穩態激光器，脈衝激光器，OPO激光器，UV-IR任意波長可擴展為TCSPC系統系統設計合理，結構穩定，光路不受溫度影響，不需專業人員維護。

特點：

先進性

TriVista系列三級拉曼光譜系統在加模式下，分辨率可達到 0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨TriVista系列三級拉曼光譜系統，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，對激光器波長沒有選擇性，無需濾光片，低波數測量可到5cm-1以下TriVista系列三級拉曼光譜儀應用PI特有銳利線削減技術，不需轉動光柵即可在一個CCD窗口內，同時得到低波數的Stokes/AntiStokes拉曼光譜，避免光柵轉動帶來的位置誤差。受激光器的限制，很多用戶對熒光的干擾無所適從，AntiStokes可以對您有所幫助系統結合原子力，可以實現TERS針尖增強拉曼光譜測試，可以解決納米尺度下的樣品信號的檢測共振拉曼分析：結合可調諧波長的激光器，實現變激發波長共振拉曼分析，對於不同禁帶寬度的材料，系統的側通用性與適用性極強， 解決了單一波長激光器挑材料的問題，比如對碳納米材料吸收區，會長隨材料特性改變，單一波長激光器無法獲得有用信息

高分辨率

對於半導體壓力/應力、碳納米管，同質異構的多形態現象、精細的鍵合效應等研究，必須使用高色散分光系統，得到高分辨率光譜，得到更加詳細的樣品信息，發現樣品拉曼峰的細微差異小型拉曼光譜儀受到光譜儀焦長和光柵的限制，光譜分辨率通常在0.5cm-1/pixel到1cm-1/pixelTriVista系列三級拉曼光譜系統在加模式下，分辨率可達到0.14cm-1/pixel。任何細微的光譜差別，都可精確的分辨

加模式、減模式同一光路

軟件轉換模式後，不需要校正光路***內置三光柵的拉曼光譜儀，覆蓋UV-IR全波段，軟件轉換光柵後，不需要校正光路

减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路。

低波數

小型拉曼光譜儀作為實驗室通用儀器，使用Notch Filter或Edge Filter濾除瑞利線散射光，由於濾光片的技術限制，測量***頻率在100cm-1左右，適合於常規樣品的測試低波數拉曼光譜（0-100cm-1)是一個不可或缺的分析工具，在多個科研領域，例如單壁/多壁碳納米管，晶體的晶格振動，聚合物、超晶格半導體材料等，液體，混合物等，幫助確定這些樣品的動態結構。對於這類樣品，只有使用三級拉曼光譜測試系統，用光譜儀的相減模式，濾除銳利線散射光TriVista系列三級拉曼光譜系統，利用前兩級高性能光譜儀濾除銳利線散射光，低波數測量可到5cm-1以下

超高靈敏度

液氮製冷探測器，採用Pricenton Instruments探測器,超低噪音，可實現長達1h曝光時間不同面陣和像素尺寸的探測器InGaAs陣列探測器針對快速拉曼mapping可採用電子增益型探測器***紋波效應的背照式eXcelon探測器

系統可靈活擴展

• 顯微鏡頭等三光柵配置，可覆蓋UV-IR波段。可做熒光、PL、時間分辨光譜，熒光壽命
  

– 深紫外至近紅外波長范圍(200至1600nm)

– ***多4個集成多線激光器和端口

– 大型外部激光器

– 紫外線和可見光/近紅外雙光束路徑

– 從紫外到近紅外的拉曼濾光片

– 適用於488、514、532，633、785和1064nm

• 大樣品的宏觀特性：可放置1x1cm比色皿，***尺寸5x5x5cm的固體樣品，粉末，粉末壓片，薄膜等
  
• 宏光路耦合輸入端：可耦合到高壓樣品池，高低溫杜瓦，真空樣品箱，電化學樣品池等。也可與光纖耦合或使用標準照相機鏡頭
  
• 可做吸收，透射，正反射，任意角度激發
  
• 異形樣品箱
  
• 拉曼探頭
  

系統性能參數

• 波長范圍：深紫外到近紅外波長范圍
  
• 集成多達4個激光器，可選配外接大型激光器端口
  
• 紫外和可見光/近紅外雙光束路徑
  
• 自動控制激光選擇
  
• 自動對準，聚焦和校準功能
  
• 超高拉曼光譜分辨率，例如FWHM＜0.1cm-1@633nm
  
• 三級減模式無需濾光片，低波數可測試到+/-5cm-1
  
• 高波數範圍可達9000cm-1(@532nm)，適用於光致發光
  
• 熱電製冷和液氮製冷探測器
  
• 正置/倒置/雙顯微鏡
  
• 步進電機和壓電驅動XYZ位移台
  
• 快速拉曼mapping
  
• 集成控制加熱/冷卻台，液氦溫度低溫恆溫器
  
• 可結合拉曼成像和原子力顯微鏡成像
  
• 自動控制的偏振光譜功能
  
  

應用領域：

• 適用研究在納米尺度下，以氮化鎵(GaN)、氧化鋅(ZnO)為代表的第三代半導體材料
  
• 寬禁帶Ⅱ-Ⅵ族半導體發光、激光與光電探測材料、器件等研究
  
• 高壓科學研究中，材料、器件，以及能量轉換過程研究